CT 平台系列

CT 100

CT100小型桌面式量测轮廓仪，具备CT平台易扩展的特点，多用于实验室研究测量应用。

CT300 是一款立式轮廓仪，具有良好的抗震性和稳定性，对于复杂的工厂环境，震动、温度、照明等严苛条件都具有很好的应用效果。

双面非接触式测量系统，同步测量样品两面表面形貌，测量样品绝对厚度及TTV。该系列设备有小型平台版的CT250T以及更大型的CT600T型多种变体，以满足客户不同产品测量需求。

CT600是一款大型表面形貌轮廓仪，特别针对于超大型和重型样品。设备有充分的扩展性，支持各类型用户特别定制需求。

针对晶圆生产商晶圆测量特别研发的含有晶圆自动识别，传送系统的测量系统。可自主识别、测量4、6、8寸晶圆。众多国际大型半导体芯片生产厂商都将CyberScan Handling系统视为快速提高产能，增加生产效率的尖兵利器。

针对客户独特产品测量需求，CyberTech依托强的自身强大的创新研发团队，并整合最新工业产品开发满足客户需求的各类型测量平台。

Vantage 2 是一款小型桌面式量测轮廓仪，装备简单，多用于实验室研究测量应用。

桌面式2D膜厚测量仪，具有测量精度高，操作简便等特点。