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设备应用

Hanstech semitechnology Co., Ltd

表面形貌测量专家

瀚泰微科技提供高精度的非接触式3D表面形貌测量设备,广泛用于工业及各研究领域。利用纳米级解析精度的光学传感器,CyberScan的光学量测设备可以快速精确的获取样品表面各类型表面形貌特征,膜厚,粗糙度,平整度,翘曲度,焊球共面性等信息,以及透明膜厚度,分层结构等。
点击具体应用信息图标,查看更多详细信息。

平整度测量

测量PCB电路板,芯片表面,材料零件表面等样品表面平整度。

粗糙度测量

依据ISO标准,全部R参数和空间S参数,一次扫描,全部测量。

膜厚测量

精确测量电路板材料膜厚或结构高度,可用于各种基材的电路板膜厚测量。

透明镀膜厚度

测量Epoxy,Flux等有机透明涂材厚度,折射率等参数可以客户自定义。

共面性测量

系统可以测量反射率相差很大的两种不同材料的表面形貌。共面性根据ISO标准,可以自定义参考平面。

Laser Marking 深度

测量市面上几乎所有类型设备的激光打标深度,含自动识别打标区域。