Hanstech semitechnology Co., Ltd
cyberSCAN VANTAGE 1 全新研发的Vantage 1 全新支持更高精度的CHR共聚焦传感器。该产品拥有时尚的设计外形,支持高精度C-CHR共聚焦传感器。同时配备磁线性驱动马达,使得输出截面测量更趋近产品实际表面形貌。所有电路连接均集成于设备内部,没有外部独立控制器,仅最基本电源连接及通信连接线。设备可广泛用于各大科研院所,实验室以及工业生产领域,非常适合于测量基板厚膜,太阳能光伏板等方面的应用。
技术特点: