表面形貌测量专家
瀚泰微科技提供高精度的非接触式3D表面形貌测量设备，广泛用于工业及各研究领域。利用纳米级解析精度的光学传感器，CyberScan的光学量测设备可以快速精确的获取样品表面各类型表面形貌特征，膜厚，粗糙度，平整度，翘曲度，焊球共面性等信息，以及透明膜厚度，分层结构等。
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平整度测量
测量PCB电路板，芯片表面，材料零件表面等样品表面平整度。
粗糙度测量
依据ISO标准，全部R参数和空间S参数，一次扫描，全部测量。
膜厚测量
精确测量电路板材料膜厚或结构高度，可用于各种基材的电路板膜厚测量。
透明镀膜厚度
测量Epoxy，Flux等有机透明涂材厚度，折射率等参数可以客户自定义。
共面性测量
系统可以测量反射率相差很大的两种不同材料的表面形貌。共面性根据ISO标准，可以自定义参考平面。
Laser Marking 深度
测量市面上几乎所有类型设备的激光打标深度，含自动识别打标区域。
